無損檢測設(shè)備原理

基于各種原理的無損檢測方法有很多，這里我們將講解需要設(shè)備的檢測方法和原理。

1、超聲波探傷檢驗設(shè)備

圖1 超聲波探傷檢測設(shè)備原理

超聲波探傷檢測設(shè)備是由超聲波探頭發(fā)射高壓超聲波，接收傳播并穿過被檢物體表面和內(nèi)部并被內(nèi)部缺陷和表面缺陷反射的振動回波的裝置。確定內(nèi)部缺陷和表面劃痕的位置和大小。

圖2 超聲波檢測設(shè)備的類型

超聲波探傷的方法有脈沖反射法、透射法、共振法三種，根據(jù)被檢物體的形狀可采用不同的方法。

2、磁粉探傷設(shè)備

圖3 磁粉探傷設(shè)備原理

磁粉探傷設(shè)備是利用表面缺陷處發(fā)生的磁通量擾動的方法。

當(dāng)強(qiáng)磁場作用于磁性檢查物體時，在表面有劃痕的區(qū)域會產(chǎn)生磁通擾動。當(dāng)有色鐵粉或熒光磁粉撒在檢查目標(biāo)上時，鐵粉或熒光磁粉與表面缺陷處泄漏磁通的形狀對齊，使其成為可見的圖案或光的集合。

通常，這種方法涉及不使用設(shè)備的目視檢查，但也使用配備圖像識別設(shè)備的自動磁粉檢查設(shè)備。

3、渦流探傷設(shè)備

圖4 渦流探傷設(shè)備原理

渦流探傷設(shè)備是通過內(nèi)嵌銅絲纏繞線圈的探頭通入交流電，使其靠近被檢物體表面，通過測量被檢物體表面產(chǎn)生的過電流擾動來判斷有無缺陷。馬蘇物體的表面。

由于缺陷判別精度和靈敏度需要線圈形狀與被檢物體相匹配，因此通常在檢查多個相同形狀的物體時使用。

4、射線檢測設(shè)備

圖5 射線檢測裝置原理

利用在輻射中具有較高穿透性能的高能X射線照射被檢物體。發(fā)射的輻射被檢測器接收，并利用信號繪制或使用圖像識別裝置進(jìn)行檢測我會檢查物體內(nèi)部的缺陷。

過去，通過將膠片暴露在輻射下來目視確定是否存在缺陷，類似于人體的 X 射線檢查，但現(xiàn)在使用圖像識別自動檢測缺陷的設(shè)備越來越多。